日立科學(xué)儀器(北京)有限公司

展位號(hào)：H1館 A615         

TM4000PlusII 

觀察與分析的靈活性，自動(dòng)獲取各類數(shù)據(jù)?？焖偾袚Q！

1、可快速獲得元素分布圖，Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察；操作簡(jiǎn)單且快捷，觀察圖像只需 3 分鐘。Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告，只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報(bào)告，即便是絕緣物樣品，也無需預(yù)處理，就可直接進(jìn)行觀察；

2、“靜電減輕模式”可抑制靜電現(xiàn)象對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的樣品，可使用“靜電減輕模式”，在抑制靜電的狀態(tài)下進(jìn)行觀察。只需用鼠標(biāo)在軟件上點(diǎn)擊即可切換到“靜電減輕模式”；

3、可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察，對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品，可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察；

4、可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像（表面形狀）觀察，無需預(yù)處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面。不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品，還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品?？煽焖龠M(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。

5、高感度低真空二次電子檢測(cè)器，采用高感度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)。通過檢測(cè)由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過控制該檢測(cè)器，來檢測(cè)電子照射所產(chǎn)生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。

6、可支持加速電壓20kVTM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。憑借EDS分析（選配），可進(jìn)行更高計(jì)數(shù)率解析。通過加速電壓20 kV，實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化Multi Zigzag（選配可實(shí)現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進(jìn)行SEM觀察。搭配自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)低倍率，高精度，大范圍的觀察分析。

7、非常簡(jiǎn)單的 EDX 分析：面分析、譜峰分析、線分析。輕松觀察 STEM 圖像，與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺(tái)和高靈敏度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)配合使用，輕松觀察小倍率 STEM 圖像、薄膜樣品和生物樣品。